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降落数值测定仪基本原理

发布时间:2023/4/1354

降落数值测定仪基本原理
降落数值测定仪是按照伯格哈格--波通降落数值法对谷物中α—活性指标进行测定的。
面粉、粗粒粉和全麦粉的悬浮液在沸水浴中被迅速糊化,因糊化物中α—活性的不同而使其中的淀粉不同程度的被液化,液化程度不同,粘度搅拌器在糊化物中降落特定距离所需要的时间不同。因此,降落数值的高低也就表明了相应的α—活性的差异,降落数值高表明α—的活性低,反之则表明α—的活性高。
降落数值测定仪(全自动)是根据GB/T 10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉,杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》较新一款仪器。它是测定谷物中活性的专用仪器,可准确判断谷物的发芽损伤程度,适用于谷物,尤其是小麦和小麦粉的测定,是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等ling域中进行质量检测的仪器。


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