降落值测定仪是根据GB/T 10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产。降落值测定仪是测定谷物中活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等ling域中进行质量检测的仪器。